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    Sei qui:Home»Appuntamenti»SENSOR+TEST: Analog Devices è pronta!

    SENSOR+TEST: Analog Devices è pronta!

    By Redazione BitMAT05/05/2023Updated:05/05/20233 Mins Read
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    Dal 9 all’11 Maggio 2023 Analog Devices sarà presente con i suoi prodotti e le sue applicazioni al Padiglione 1, Stand #1-429 della fiera SENSOR+TEST di Norimberga.

    SENSOR+TEST

    Manca pochissimo all’inaugurazione dell’edizione 2023 di SENSOR+TEST, la fiera internazionale dedicata alla tecnologia dei sensori, alla misurazione e al collaudo che si terrà, come di consueto, presso il centro espositivo di Norimberga, in Germania, dal 9 all’11 maggio.

    Anche quest’anno Analog Devices (ADI) partecipa a SENSOR+TEST e allo stand i visitatori potranno scoprire alcune delle soluzioni innovative utilizzate in una vasta gamma di applicazioni. Dalla diagnosi e monitoraggio dei guasti del motore per le applicazioni industriali alla combinazione di una serie di sensori per fornire informazioni dettagliate e una maggiore comprensione della salute degli asset, fino a come ADI può rendere possibili le soluzioni di rilevamento più intelligenti.

    Le Demo di ADI a SENSOR+TEST

    Incrementare la sostenibilità della fabbrica usando sensori intelligent edge

    In occasione di SENSOR+TEST verrà presentata una gamma di prodotti ADI che possono essere utilizzati per ridurre i tempi di fermo macchina non programmati, ridurre i costi di manutenzione e migliorare la durata degli asset. Raccogliendo dati sullo stato di salute delle macchine e generando dati e informazioni utili con l’aiuto di ADI OtoSense, grazie all’intelligenza artificiale possono essere diagnosticati automaticamente nove tipologie di guasti elettrici e meccanici critici.

    Rilevamento contactless della corrente

    Presentazione del sensore di campo magnetico ADAF1080 AMR, rilasciato di recente in varie configurazioni, per la misurazione della corrente. Le soluzioni basate sull’ADF1080 presentano un basso offset, larghezza di banda e accuratezza elevate e robustezza meccanica rispetto alle soluzioni tradizionali basate su concentratori di flusso.

    Anche i sensori magnetici angolari e multi-giro alla fiera SENSOR+TEST

    Presentazione del primo sensore al mondo angolare e multigiro a chip singolo che funziona senza alimentazione o contatto, eliminando la necessità di un trasduttore lineare in un attuatore rotativo/lineare. Inoltre, è possibile conoscere i prodotti ADA4570/ADA4571, che forniscono una misura angolare precisa e mostrano, attraverso un’applicazione motore per la misura della posizione dell’albero e il controllo della commutazione del motore, la facilità di integrazione dei sensori.

    Piattaforma wireless di rilevamento dell’integrità

    Verranno presentati a SENSOR+TEST i nuovi sensori di fatica basati su nanotubi di carbonio, combinati con una piattaforma di acquisizione dati intelligente all’avanguardia, che forniscono un rilevamento ad altissima risoluzione delle cricche superficiali nei materiali. In combinazione con la rete DAQ, questi sistemi consentono di combinare e gestire più modalità di rilevamento su un’unica piattaforma, offrendo agli utenti un set di dati unico e personalizzabile per le loro esigenze di monitoraggio.

    ADI porta a SENSOR+TEST la misurazione digitale ad alta precisione della temperatura

    Dimostrazione della facilità d’uso di qualsiasi modalità di sensore di temperatura combinata con l’LTC2983, senza la necessità di compensare o calibrazione della cold junction, poiché il sensore è già linearizzato. Gli utenti finali possono misurare direttamente la temperatura da termistori, termocoppie e diodi e ricevere i risultati direttamente tramite un’applicazione.

    Analog Devices anche a PCIM

    Contemporaneamente a SENSOR+TEST, ADI PCIM Europe, Padiglione 7 – Stand 529 è come co-espositore insieme ad Arrow al, qui verranno le ultime applicazioni e collaborazioni. ADI inoltre terrà una presentazione di Alexandr Ikriannikov, ADI Fellow, Analog Devices, giovedì 11 maggio alle ore 9:50 presso la PCIM Room Mailand: “Converters with Multiphase Magnetics: TLVR vs. CL and the Novel Optimized Structure”.

     

    Analog Devices collaudo Fiera di Norimberga misurazione sensoristica
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